《材料物理现代研究方法》求取 ⇩

1绪论1

1.1实验在科学发展中的重要作用1

1.2实验方法的选择2

参考文献15

2核磁共振（NMR）谱学17

2.1概述17

2.2基本原理17

2.3实验方法和新技术24

2.4 NMR在材料科学中的应用28

参考文献49

3正电子湮没技术（PAT）52

3.1 PAT的基础知识52

3.2实验方法62

3.3正电子湮没技术的应用72

3.4正电子素86

3.5结束语88

参考文献88

4原子探针——场离子显微镜（AP—FIM）95

4.1场离子显微术原理96

4.2原子探针（AP）110

4.3AP-FIM的应用122

参考文献132

5卢瑟福背散射谱学137

5.1实验方法及基本设备137

5.2基本原理138

5.3背散射谱的分析方法144

5.4沟道效应151

5.5应用举例155

5.6总结161

参考文献162

6二次离子质谱学164

6.1基本物理过程164

6.2基本装置及实验方法170

6.3 SIMS分析实例176

6.4 SIMS方法的特点和局限性180

参考文献181

7俄歇电子能谱学182

7.1基本原理182

7.2基本装置与实验方法189

7.3应用实例195

参考文献203

8 X射线光电子能谱学204

8.1基本原理204

8.2基本装置205

8.3 XPS谱206

8.4分析方法215

8.5应用217

8.6 XPS与SIMS、AES的特点对比223

参考文献224

9中子活化分析226

9.1概述226

9.2中子活化分析的基本原理229

9.3核蜕变和辐射的探测234

9.4中子活化方法一般应用及实例238

9.5活化技术在材料物理中的应用242

参考文献261

10扰动角关联262

10.1扰动角关联技术262

10.2扰动角关联在材料研究中的应用270

10.3结束语291

参考文献292

11 X射线吸收精细结构（XAFS）谱294

11.1 XAFS原理294

11.2 XAFS理论298

11.3 XAFS实验301

11.4 XAFS数据分析方法306

11.5 XAFS误差分析和国际规范310

11.6 XAFS应用及发展312

参考文献319

12中子散射技术323

12.1概述323

12.2中子的基本性质、中子的产生、中子的探测及其防护324

12.3中子散射的基本原理与方法328

12.4中子散射的基本实验设备简述339

12.5中子散射的应用342

参考文献362

13核反应分析及质子荧光X射线分析364

13.1核反应分析基本原理364

13.2核反应分析技术366

13.3核反应分析应用举例367

13.4核反应分析的特点371

13.5质子X射线荧光分析基本原理372

13.6 PIXE分析技术375

13.7 PIXE的应用378

13.8 PIXE分析的特点380

参考文献381

14分析电子显微镜技术382

14.1概述382

14.2分析电子显微镜基本原理383

14.3 X射线能谱分析（XEDS）393

14.4电子能量损失谱分析的原理和应用418

14.5微区电子衍射433

参考文献443

15激光和同步辐射技术445

15.1激光测试技术445

15.2同步辐射技术450

参考文献456

16穆斯堡尔谱学458

16.1原理458

16.2实验方法及数据处理467

16.3超精细相互作用476

16.4穆斯堡尔效应在材料物理中的应用489

参考文献499

17扫描隧道显微镜（STM）502

17.1概述502

17.2 STM原理及基本理论503

17.3 STM系统简介509

17.4实验方法512

17.5 STM的应用518

参考文献530

附录一534

附录二536

附录三538

编者通讯录539