《陶瓷材料研究方法》

第一章光学显微镜概况1

第一节 概述1

第二节 光学显微镜的工作能力10

第二章偏光显微镜17

第一节 晶体光学的基础理论17

第二节 偏光显微镜下材料的定性分析28

第三节 透光材料折光率的测定方法66

第四节 偏光显微镜下材料的定量分析76

第五节 偏光显微镜下材料的系统研究83

第三章反光显微镜90

第一节 反光显微镜的构造90

第二节 反光显微镜下观察试样的制备93

第三节 反光显微镜下材料的研究99

第一节 暗场照明法114

第四章特殊显微技术114

第二节 相衬显微镜117

第三节 干涉显微术122

第五章电子显微镜135

第一节 透射式电子显微镜135

第二节 扫描电子显微镜(SEM)146

第六章X射线物理基础159

第一节 X射线的基础知识159

第二节 X射线发生装置171

第三节 X射线的检测及安全防护174

第七章X射线衍射分析177

第一节 X射线的衍射177

第二节 布拉格方程式178

第三节 X射线的衍射强度181

第四节 晶体对X射线衍射的基本方法190

第五节 粉末法(德拜法)及其原理192

第六节 聚焦法207

第七节 衍射仪法210

第八节 X射线物相定量分析215

第九节 定性相分析及X射线粉末衍射卡片(JCPDS卡片)的应用219

第十节 晶粒度的测定225

第八章荧光X射线分析及电子探针微区X射线分析230

第一节 荧光X射线分析230

第二节 电子探针微区X射线分析241

第九章高温物相分析250

第一节 概述250

第二节 差热分析250

第三节 失重分析285

第四节 综合热分析288

第五节 高温X射线分析291

第十章红外光谱分析298

第一节 红外光谱的基本概念298

第二节 红外分光光度计的构造及试样制备300

第三节 影响红外吸收光谱的因素及谱线解释304

第四节 红外分析在陶瓷领域中的应用307

第十一章表面分析仪器308

第一节 概述308

第二节 离子探针微区分析(IMMA)310

第三节 光电子能谱分析(ESCA)319

第四节 俄歇电子能谱分析(AES)324

第五节 低能电子衍射(LEED)326

第六节 场离子显微镜328

第十二章陶瓷材料综合研究实例333

第一节 普瓷的研究333

第二节 特瓷的研究348

附表360

X射线衍射分析常用表360

参考书目379