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目录1

第一章 X射线物理学基础5

§1-1X射线的产生及其性质5

§1-2X射线谱7

§1-3X射线的散射13

§1-4X射线的衰减16

第二章 布拉格方程与粉末照相20

§2-1X射线在晶体中的衍射20

§2-2布拉格方程20

§2-3X射线衍射方法22

§2-4粉末照相法23

第三章 衍射原理与分析30

§3-1晶体学基本知识30

§3-2衍射的基本方程式（劳埃方程式）36

§3-3简单点阵的衍射分析41

§3-4复杂点阵的衍射分折42

第四章 衍射强度及衍射仪51

X射线衍射强度51

§4-1多晶体衍射强度的概念51

§4-2结构因数及原子散射因数52

§4-3多重性因数54

§4-4角因数55

§4-5吸收因数58

§4-6温度因数60

§4-7衍射强度的计算62

§4-8衍射强度的测量64

§4-10X射线光学布置65

X射线衍射仪65

§4-9一般介绍65

§4-11计数器67

§4-12定标器与计数率仪71

§4-13衍射线强度的计算与测量73

§4-14衍射仪法与照相法的比较74

§4-15实验参数的选择75

第五章 点阵参数的精确测定77

§5-1一般考虑77

§5-2误差的来源79

§5-3用精密实验方法消除误差82

§5-4用图解法消除误差84

§5-5用最小二乘方法（柯亨法）消除误差86

§5-6其它照相法88

§5-7用标准样对比消除误差92

§5-8用衍射仪法测定点阵参数94

§5-9点阵参数精确测定的应用95

第六章 物相分析98

§6-1物相定性分析的特点，荧光X射线分析简介98

§6-2定性分析的原理及方法99

§63定性分析中的一些问题107

§6-4定量分析基本原理110

§6-5单线条法111

§6-6内标法113

§6-7K值法及绝热法114

§6-9等强线对法118

§6-8直接对比法118

第七章 宏观应力测定121

§7-1引言121

§7-2应力测定原理122

§7-3测试方法与参数126

§7-4应力测定中的其它问题133

第八章 晶粒大小及微观应力的测定139

§8-1晶粒大小在10-3～10-2厘水（10～100微米）时的测定方法139

§8-2晶粒大小在10-5～10-7厘米范围内的测定方法141

§8-3微观应力（第二类内应力）引起线条真实宽化的理论147

§8-4测定晶块尺寸与微观应力的实验程序150

第九章 倒易点阵与单晶体分析法163

§9-1倒易点阵基础163

§9-2晶体投影法170

§9-3劳埃法178

§9-4周转晶体法185

第十章 织构测定193

§10-1引言193

§10-2用照相法测定金属丝织构193

§10-3多晶体极图198

§10-4用照相法测定金属板织构200

§10-5用衍射仪法测定金属板织构204

§10-6反极图207

结语209

实验指导书212

实验一 X射线晶体分析仪与粉末照相212

实验二 立方晶系单相物质粉末相的指标化（计算法）221

实验三 利用X射线衍射仪进行多相物质的相分析231

实验四 用直接对比法测定淬火钢中残余奥氏体含量239

实验五 淬火钢的宏观应力测定244

实验六 用劳埃法测定单晶体的取向251

附录259

附录1 物理常数259

附录2 元素的特征发射谱线及吸收限波长，埃259

附录3 质量吸收系数μ1/ρ及密度ρ261

附录4 滤波片选用表263

附录5 立方晶系的HKL和sin2θi/sin2θ1值263

附录6 粉末试样经验冲淡数据266

附录7 原子散射因数f267

附录8 原子散射因数在吸收限近旁的减小值△f269

附录9 各种点阵的结构因数F2HKL270

附录10 粉末法的多重性因数Phkl270

附录11 角因数1+cos22θ/sin2θcosθ271

附录12 圆柱粉末试样的吸收因数μ1R272

附录13 德拜函数φ(x)/x+1/之值274

附录14 德拜－瓦洛温度因数？=e-M274

附录15 某些物质的特征温度Θ275

附录16 cos2θ的数值275

附录17 1/2(cos2θ/sinθ+cos2/θ)的数值276

附录18 sin2θ的数值277

附录19 Kα双重线分离度(θα2-θα1)279

附录20 立方系晶面间夹角280

附录21 元素的物理性质283