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基本原理1

第一章 X射线的性质1

1-1引言1

12电磁辐射1

目 录1

1-3连续光谱3

1-4特征光谱4

1-5吸收7

1-6滤波片11

1-7 X射线的产生11

1-8 X射线的探测15

1-9安全防护16

2-1引言19

2-2点阵19

第二章 晶体几何学19

2-3晶系20

2-4对称性22

2-5初基阵胞与非初基阵胞24

2-6点阵方向与点阵平面25

2-7晶体结构29

2-8原子大小与配位37

2-9晶体的形状38

2-10孪晶39

2-11极射赤面投影42

第三章衍射（Ⅰ）：衍射光束的方向55

3-1引言55

3-2衍射55

3-3布喇格定律58

3-4 X射线光谱学60

定性分析 260

14-3哈那瓦特法 261

3-5衍射方向61

3-6衍射方法62

3-7非理想条件下的衍射67

4-1引言73

第四章衍射（Ⅱ）：衍射光束的强度73

4-2一个电子的散射74

4-3一个原子的散射76

4-4单晶胞的散射78

4-5一些有用的关系82

4-6结构因数的计算82

4-7强度计算在粉末法中的应用86

4-8多重性因数86

4-9洛伦兹因数87

4-10吸收因数90

4-11温度因数91

4-13强度计算举例92

4-12粉末图样中线条的强度92

4-14 X射线强度的测量95

实验方法97

第五章劳厄照相97

5-1引言97

5-2相机98

5-3试样架100

5-4准直管101

5-5劳厄斑点的形状103

6-2德拜－谢乐法105

6-1引言105

第六章粉末照相105

6-3试样的制备107

6-4底片的安装108

6-5高温与低温相机109

6 6聚焦相机110

6-7塞曼－巴林相机110

6-8背射聚焦相机113

6-9针孔照相114

6-10辐射的选择116

6-11底影辐射116

6-12晶体单色器118

6-13线条位置的测量121

6-14线条强度的测量121

第七章衍射计测量124

7-1引言124

7-2一般特点124

7-3 X射线光学129

7-4强度的计算130

7-5正比计数器132

7-6盖革计数器134

7-7闪烁计数器138

7-8定标器139

7-9脉冲速率计142

7-10单色器的应用145

8-2背射劳厄法148

第八章单晶体的取向148

8-1引言148

实际应用148

8-3透射劳厄法156

8-4衍射计法161

8-5晶体的定向安装法163

8-6塑性变形的效应165

8-7孪晶的相对取向170

8-8沉淀相与基体相的相对取向174

晶体大小177

9-2晶粒大小177

9-1引言177

第九章 多晶聚合体的组织177

9-3微粒大小179

9-4晶体的完善性180

晶体的完善性180

9-5 X射线贯穿的深度184

晶体的取向186

9-6概述186

9-7线材和棒材的织构（照相法）189

9-8板材的织构（照相法）191

9-9板材的织构（衍射计法）194

9-10小结201

第十章 晶体结构的测定202

10-1引言202

10-2资料的初步处理203

10-3立方系图样的指数标定204

10-4非立方系图样的指数标定（图解法）207

10-5非立方系图样的指数标定（分析法）213

10-6点阵畸变对粉末图样的影响215

10-7单位晶胞中原子数的测定216

10-8原子位置的测定217

10-9结构测定举例218

第十一章 点阵参数的精密测量222

11-1引言222

11-2德拜－谢乐相机223

11-3背射聚焦相机228

11-4针孔相机229

11-5衍射计229

11-6最小二乘方法230

11-7科亨法233

11-8定度法235

12-2一般原理237

12-1引言237

第十二章相图的测定237

12-3固溶体241

12-4固溶线的测定（相消失法）243

12-5固溶线的测定（参数法）244

12-6三元系246

第十三章有序－无序转变249

13-1引言249

13-2 AuCu3中的长程有序249

13-3长程有序举例253

13-4超点阵线条的探测256

13-5短程有序和偏聚258

14-1引言260

第十四章衍射化学分析260

14-2基本原理260

14-4定性分析举例264

14-5实际的困难266

14-6表面沉积的铿定267

定量分析（单相物质）268

14-7参数测量化学分析268

定量分析（多相物质）268

14-8基本原理268

14-9直接对比法270

14-10内标法273

14-11实际的困难275

第十五章萤光化学分析277

15-1引言277

15-2一般原理278

15-3分光计280

15-4强度与分辨率282

15-5计数器284

15-6定性分析284

15-7定量分析285

15-8自动分光计286

15-9无色散分析287

15-10镀层厚度的测量289

第十六章 吸收化学分析291

16-1引言291

16-2吸收缘法292

16-3直接吸收法（单色光束）293

16-4直接吸收法（多色光束）294

16-5实际应用295

第十七章应力测量296

17-1引言296

17-2附加应力与残留应力296

17-3单轴应力298

17-4两轴应力299

17-5实验技术（针孔相机）303

17-6实验技术（衍射计）305

17-7重迭的宏观应力与微观应力306

17-8定度308

17-9实际应用309

第十八章 对于进修的建议312

18-1引言312

18-2教科书312

18-3参考书314

18-4期刊315

附录316

附录1 点阵几何316

A1-1面间距316

A1-2阵胞体积316

附录2 菱方系－六方系变换317

A1-3面夹角317

附录3 某些特征发射谱线和吸收缘的波长（埃）319

附录4 质量吸收系数（μ/ρ）和密度（ρ）321

附录5 sin2θ的数值323

附录6 密勒指数的二次式325

附录7 （sinθ）/λ的数值（埃-1）326

附录8 原子散射因数327

附录9 粉末照片的多重性因数329

附录10 洛伦兹－偏振因数（1+cos22θ/sin2θcosθ）330

附录11物理常数331

附录12国际原子量（1953）332

附录13晶体结构的资料333

A14-2电子衍射336

A14-1引言336

附录14电子衍射和中子衍射336

A14-3中子衍射337

附录15倒易点阵338

A15-1引言338

A15-2成矢乘法339

A15-3倒易点阵339

A15-4衍射和倒易点阵343

A15-5转晶法345

A15-6粉末法346

A15-7劳厄法347

习题答案擇要350

索引352