《电子设备的可靠性 第2版》求取 ⇩

目录1

前言1

译序3

1．绪论4

1.1 绪论4

1.2 历史综述4

1.3 可靠性的定义5

1.4 什么是可靠性值？6

1.5 平均故障间隔7

1.6 平均初次失效时间8

1.7 可用性8

1.8 不可用性或停工比9

1.9 环境因素的效果10

1.10 故障率和MTBF的一般定义11

2．数学基础14

2.1 概率14

2.2 概率的经典定义14

2.3 概率的相关频率定义15

2.4 对立事件15

2.5 复合事件16

2.6 非互斥事件的联合概率17

2.7 一般加法规则19

2.8 条件概率20

2.9 贝叶斯（Bayes′）定理21

2.10 概率图23

2.11 二项式分布24

2.12 二项式分布的示例27

2.13 最可能的结果29

2.14 泊松分布30

2.15 泊松分布的示例31

2.16 指数故障律34

2.17 统计35

2.18 均值35

2.19 其它的定位测度36

2.20 变率36

2.21 正态分布37

3．可靠性预测40

3.1 系统细分40

3.2 可靠性模型40

3.3 串联系统的故障分析41

3.4 串联系统的示例42

3.5 并联系统43

3.6 其它的并联组态44

3.7 并联系统的示例45

3.8 混合系统的分析46

3.9 冗余的利用47

3.10 暂时冗余48

3.11 纠错码48

3.12 多通道冗余50

3.13 冗余水平52

3.14 双重转换单元的利用54

3.15 三重冗余55

3.16 双重和三重系统的比较56

3.17 四线逻辑58

3.18 冗余系统的MTBF59

3.19 近似方法60

3.20 集成电路61

3.21 设计故障62

3.22 软件故障63

3.23 设计上的故障模式的作用64

4.1 故障率随时间的变化66

4．元件故障数据66

4.2 故障类型67

4.3 影响故障率的因素68

4.4 温度的效应68

4.5 温度和放障率69

4.6 计算内部温升70

4.7 电压应力的效果71

4.8 环境因子72

4.9 放障率的计算问题72

4.10 故障率数据的来源73

4.11 置信限和置信度75

4.12 计算试验结果75

4.13 序贯试验77

4.14 设备的环境试验78

4.15 筛选和故障模式分析79

4.16 筛选试验80

4.17 对超可靠性的要求81

5．可靠性设计83

5.1 可靠性设计83

5.2 容许偏差的效果83

5.3 开关电路的最坏情况设计84

5.4 最环情况设计的困难85

5.5　统计设计86

5.6 元件的选择86

5.7 降额对可靠性的改进87

5.8　元件质量的确定88

5.9　机械设计89

5.10　对干扰和嘈声的防护90

5.11　冗余的利用91

5.12　可维修和不可维修系统92

5.13　故障指示器的利用93

5.14　数字故障指示器94

5.15　模拟冗余94

5.16　并联冗余95

5.17　失效—安全电路96

5.18　集成电路冗余98

5.19　发展前景100