《放大电路的噪声分析》

目录1

第一章　噪声的分析方法1

§1-1　随机过程的统计特性2

1-1-1　随机过程定义和数学描述2

1-1-2　平稳随机过程5

1-1-3　高斯过程和独立增量过程7

1-1-4　平稳随机过程的各态历经性11

1-1-5　复随机过程13

§1-2　随机过程的频谱特性14

1-2-1　周期随机过程的频谱特性14

1-2-2　非周期随机过程的频谱特性17

1-3-1　高斯（正态）噪声23

§1-3　高斯（正态）噪声23

1-2-3　复随机过程的功率谱密度23

1-3-2　高斯白噪声25

1-3-3　限带白噪声27

§1-4　随机信号和噪声通过线性网络29

§1-5　散粒噪声34

1-5-1　概述34

1-5-2　电子管中的散粒噪声35

1-5-3　晶体管中的散粒噪声42

§1-6　分配噪声46

1-6-1　方差定理47

1-6-2　电子管中的分配噪声47

1-6-3　双极型晶体管中的分配噪声49

§1-7　热噪声50

§1-8　噪声电路的计算57

1-8-1　噪声等效电压源和等效电流源58

1-8-2　串联电阻的噪声计算60

1-8-3　并联电阻的噪声计算62

1-8-4　电抗网络的噪声计算63

第二章　放大器的噪声65

§2-1　放大器的噪声模型和等效输入噪声65

2-1-1　放大器的噪声模型65

2-1-2　放大器的等效输入噪声66

§2-2　噪声系数和噪声量度69

2-2-1　噪声系数的定义69

2-2-2　最佳源电阻71

2-2-3　级联放大器的噪声系数73

2-2-4　噪声量度76

§2-3　噪声温度78

第三章 电子器件中的噪声82

§3-1　双极型晶体管的噪声82

3-1-1　双极型晶体管的噪声模型82

3-1-2　晶体管的等效输入噪声83

3-1-3　晶体管的中频段噪声系数85

3-1-4　晶体管的中频段En-In模型87

3-1-5　晶体管的低频和高频噪声90

3-1-6　噪声系数等值线94

§3-2　场效应晶体管的噪声模型98

3-2-1　场效应晶体管的噪声模型98

3-2-2　场效应晶体管的En-In模型100

§3-3　线性集成电路的噪声103

3-3-1 差分对的噪声特性104

3-3-2 恒流源中的噪声108

3-3-3 集成运算放大器的噪声115

第四章 低噪声放大器的设计120

§4-1 级联放大器的噪声分析120

4-1-1 引言120

4-1-2 级联放大器的等效输入噪声电流121

4-1-3 器件的通用噪声模型121

4-1-4 级联放大器的等效输入噪声电压125

§4-2 反馈放大器的噪声分析127

4-2-1 反馈对噪声特性的影响127

4-2-2 噪声的近似分析129

4-2-3 精确求解132

§4-3 “无噪声”偏置电路133

4-3-1 由电阻产生的总噪声的计算133

4-3-2 偏置电路的噪声和“无噪声”偏置135

§4-4 低噪声级的设计考虑138

4-4-1 设计任务与方法138

4-4-2 放大器件的选择139

4-4-3 电路组态的考虑140

4-4-4 工作点的选择140

4-4-5 反馈的考虑141

§4-5 设计举例142

设计例Ⅰ——低噪声级方案比较142

设计例Ⅱ——光前置放大器的噪声计算144

设计例Ⅲ——超低噪声摄象管前置放大器152

设计例Ⅳ——10nV直流放大器的设计157

第五章 噪声测量163

§5-1 有关噪声测量的一般问题163

5-1-1 噪声值的表示和测量163

5-1-2 带宽准则167

5-1-3 电压表的满度波蜂因数170

5-1-4 测量时间的影响172

§5-2 噪声测量的基本方法173

5-2-1 噪声测量——正弦波法173

5-2-2 噪声测量——噪声发生器法175

5-2-3 两种测量方法的比较177

5-3-1 测量电路178

§5-3 测量En和In及NF的正弦波法178

5-3-2 En和In的测量179

5-3-3 噪声系数的测量181

§5-4 噪声系数测量——噪声发生器法182

5-4-1　测量原理和基本误差183

5-4-2　标准噪声源1/f噪声的影响187

5-4-3　测量系统的带宽影响188

§5-5　噪声带宽的测量190

5-5-1　噪声带宽的测量——正弦波法190

5-5-2　噪声带宽的测量——噪声发生器法190

§5-6　集成运算放大器噪声参数的测量191

5-6-1　输入噪声电压En的测量192

5-6-2　输入噪声电流I-n和I+n的测量196

参考文献202