《表3 单级系统波像差均方根检测结果(λ=632.8 nm)》
光学参数测试包含波像差和焦距和透过率测试,采用干涉仪对单级光学系统检测后的波前如表3所示。
图表编号 | XD0089663200 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.09.25 |
作者 | 吴从均、张新洁 |
绘制单位 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
光学参数测试包含波像差和焦距和透过率测试,采用干涉仪对单级光学系统检测后的波前如表3所示。
图表编号 | XD0089663200 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.09.25 |
作者 | 吴从均、张新洁 |
绘制单位 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |