《表1 不同工艺方法实现的折射率梯度深度和折射率差值》
进一步探究大尺寸大折射率范围的梯度折射率光学器件的制造工艺,是目前传统梯度折射率制备工艺的难点所在。同时,在制造工艺过程中需要严格控制表面质量保证成品率,因此如何在制造工艺中高效准确地检测所制造梯度折射率光学元件表面也成为了研究重点。
图表编号 | XD0088771600 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2019.09.30 |
作者 | 陶欣然、葛爱明 |
绘制单位 | 复旦大学电光源研究所、复旦大学电光源研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
进一步探究大尺寸大折射率范围的梯度折射率光学器件的制造工艺,是目前传统梯度折射率制备工艺的难点所在。同时,在制造工艺过程中需要严格控制表面质量保证成品率,因此如何在制造工艺中高效准确地检测所制造梯度折射率光学元件表面也成为了研究重点。
图表编号 | XD0088771600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.09.30 |
作者 | 陶欣然、葛爱明 |
绘制单位 | 复旦大学电光源研究所、复旦大学电光源研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |