《表1 LA-ICP-MS仪器工作参数》

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《"LA-ICP-M S结合超高压粉末压片技术快速分析碳酸盐岩中Mg,Ca,Sr,Ba和轻稀土元素"》

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RESOlution M-50型号193 nm Ar F准分子激光剥蚀系统（澳大利亚Scientific Instruments公司）与Element 2双聚焦扇形磁场电感耦合等离子体质谱（美国赛默飞世尔公司）联用的LA-ICP-MS系统。NIST SRM 612作为监控物质，调节88Sr，139La和232Th信号最高，Th/U信号比值在0.95～1.05范围内，氧化物产率（ThO/Th）和二次离子产率（Ca2+/Ca+）小于0.5%，仪器优化步骤请参见文献[16，17]。LA-ICP-MS工作参数汇总于表1。所采用的形状测量激光显微系统为VK-X200 series型号（德国Keyence公司），该显微系统配置了408 nm紫外激光光源和16-bit光电倍增管，同时配置了4个物镜（10×，20×，50×和150×）。剥蚀坑形貌分析在仪器自带的软件中进行。