《表2 AgSnO2NiO电触头电接触试验参数》

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《AgSnO_2NiO电触头材料电接触性能的研究》

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采用X射线衍射分析仪（XRD）对材料进行物相分析；采用金相显微镜（型号:Axio Imager A2m，德国）对材料进行显微组织分析，采用扫描电镜（SEM，型号:PHILIPSXL30ESEM-TMP）对电侵蚀后触头材料的形貌进行观察与分析。通过JF04C触点材料测试机对触头材料进行打点测试，参数设置见表2。