《表1 仪器测量条件：X荧光光谱法测定矿石中的稀土元素》

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《X荧光光谱法测定矿石中的稀土元素》

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注:（1）谱峰角度以实际使用仪器为准。（2）背景角度仅供参考，可根据实际样品进行调整。（3）PC:流气正比计数器SC:闪烁计数器。

实验列举了使用LiF（200）时的参数如下（表1）。参数中晶体LiF（200）衍射出的荧光强度与LiF（220）晶体相比较均提高了一倍左右，带来了更低的检出限，但当样品中Fe、Mn等谱线强度过高时可以选择LiF（220）晶体来解决重叠干扰过强的问题[6]。