《表1 仪器测定条件：X射线荧光光谱(XRF)法测定土壤污染样品中9种重金属元素》

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《X射线荧光光谱(XRF)法测定土壤污染样品中9种重金属元素》

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注：SC为闪烁计数器，F-PC为流气正比计。

对于组成复杂的样品，X射线荧光光谱分析的关键是寻找各元素无干扰或干扰小的分析线，并准确扣除相应的背景。为了准确地选择分析线及相应的背景位置，首先将样品在各种欲分析元素的特征X射线位置附近进行步进和脉冲PHA幅度扫描，然后按X射线分支比，仔细考虑各分析线及相应背景位置可能存在的干扰或通过寻找无干扰背景点，扣除背景。本文将背景选在分析线的长波侧，以利于检出限附近元素的准确分析，同时又可避免分析结果出现负值。其他条件为仪器软件推荐。各元素测定条件见表1。