《表1 系统中核的分布：基于改进遗传算法的3D NoC测试优化》

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《基于改进遗传算法的3D NoC测试优化》

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本文在不同的TAM条数下采用ITC′02基准电路d695和2*d695实验，在的3D No C Mesh结构中映射d695电路，在3×3×3的3D No C Mesh结构中映射2*d695电路。核的分布如表1所示，依据的原则为每层IP核的测试时间、测试功耗总和大致相同。其中第1个d695电路中的第5个核用1-5表示；第2个d695电路中的第5个核用2—5表示。