《表2 不同变形温度下各试样回火后奥氏体质量分数》
为进一步研究变形温度对最终组织中逆变奥氏体含量的影响,对回火前后的试样进行了XRD分析,结果如图5所示。图5(a)中没有出现奥氏体峰,因此可以认为淬火后的组织中没有或只有极少量残余奥氏体,回火组织中的奥氏体应该全部是在回火过程中由马氏体转变成的逆变奥氏体。由图5(b),根据GB 8362—87计算得到各试样中的奥氏体含量,结果见表2。
图表编号 | XD0083233000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.07.01 |
作者 | 陈肇翼、刘靖、任学平 |
绘制单位 | 北京科技大学材料科学与工程学院、北京科技大学材料科学与工程学院、北京科技大学材料科学与工程学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |