《表3 差分孔阻抗有无控深钻的实测数据》
如上试验方案完成试验板,并进行差分孔阻抗测试。仍以L20为例,采用控深钻与原来正常钻的测试数据如表3。通过采用大小孔优化设计可把L20层的差分孔阻抗值提升3.77Ω。根据实测数据分析,其他层次的差分孔阻抗提升值是有些差异的,平均值基本在2.5~4Ω。
图表编号 | XD0081859000 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2019.08.10 |
作者 | 袁为群、宋建远 |
绘制单位 | 崇达技术股份有限公司、崇达技术股份有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
如上试验方案完成试验板,并进行差分孔阻抗测试。仍以L20为例,采用控深钻与原来正常钻的测试数据如表3。通过采用大小孔优化设计可把L20层的差分孔阻抗值提升3.77Ω。根据实测数据分析,其他层次的差分孔阻抗提升值是有些差异的,平均值基本在2.5~4Ω。
图表编号 | XD0081859000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.08.10 |
作者 | 袁为群、宋建远 |
绘制单位 | 崇达技术股份有限公司、崇达技术股份有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |