《表1 信号处理集成电路性能测试结果》
芯片的主要性能结果如表1所示。
图表编号 | XD007520100 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.03.01 |
作者 | 陈力颖、倪立强、汤勇、周小洁、谭康 |
绘制单位 | 天津工业大学电子与信息工程学院、天津市光电检测技术与系统重点实验室、天津工业大学电子与信息工程学院、天津市光电检测技术与系统重点实验室、天津工业大学电子与信息工程学院、天津市光电检测技术与系统重点实验室、天津工业大学电子与信息工程学院、天津市光电检测技术与系统重点实验室、天津工业大学电子与信息工程学院、天津市光电检测技术与系统重点实验室 |
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