《表7 校准样品粉磨处理后压片测定结果》

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《XRF校准样品的自定值方法及其在生料控制分析中的应用》

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分取各生料校准样品约20 g，用振动器进行粉磨处理，然后再分别用压片机制作粉末压片，用XRF分析仪对粉末压片进行强度测量后，用测量强度值对浓度值直接进行回归分析制作工作曲线。然后对原校准样品和经过粉磨处理的校准样品分别进行粉末压片，作为试样进行XRF分析，分析结果分别见表7和表8。