《表5 测评机构过去12个月缺陷检测水平状态》

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《基于关联分类的FPGA缺陷检测水平量化方法》

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现有某测评机构过去一年的缺陷检测结果数据，包含约70个被测项目，平均代码规模5000行。以月为时间单位对缺陷检测结果进行划分，根据已构建好的分类器进行处理之后，参照式（1）计算各时间段的缺陷检测水平结果，结果见表5。用“S1”表示“100～80分”，“S2”表示“79～60分”，“S3”表示“59～40分”，“S4”表示“39～20分”，“S5”表示“19～0分”。