《表1 旋转攻击后旋转校正结果及缺损情况》

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《一种抗几何旋转攻击零水印算法》

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SIFT载体图像在经过1°～359°的旋转过程中边缘信息会有程度不一的像素缺损，且经过旋转校正后的载体图像也无法弥补之前缺失的像素部分。原始载体图像和受到不同角度旋转攻击的效果如图3所示，仅利用SIFT算法校正后的效果如图4所示，不同角度旋转攻击后的旋转校正结果以及缺损情况如表1所示。