《表5 ADN在正丁醇、异丙醇中结晶诱导期的拟合参数》

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《ADN的溶解度、结晶介稳区及诱导期的测定》

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对ADN在正丁醇（70℃）和异丙醇（55℃）中的诱导期数据拟合，结果如图5所示。图5中，lntind与ln-2S的关系是由两条斜率不同的直线组成，代表着不同的成核机理。斜率大的线性曲线代表在高过饱和度S时，初级成核速度很快，成核过程以均相成核机理为主，而斜率平缓的曲线代表在低过饱和度S时成核过程以非均相成核机理为主，划分不同成核机理的过饱和度分界大致在1.06～1.10。图5显示，在恒定实验温度下，随着过饱和度S的增加，ADN的成核速率加快，结晶诱导期减小，出现晶核所需要的时间变短。这是因为非均相成核发生在如结晶器、叶轮或者尘埃的表面，可以减小由于固‐液界面张力所引起的成核能垒，促进成核，所以消耗的时间要比均相成核要短[28]。由图5分别得到低、高过饱和度下的斜率α与截距ψ，再结合式（13），可算出ADN在正丁醇和异丙醇中的固‐液界面张力γ，结果如表5所示。固‐液界面张力在均相成核速率方程中是影响晶体成核与成长过程的重要影响因素[29]，表示溶质从溶液中结晶的能力，固‐液界面张力越小，表示溶质越容易从溶液中结晶出来，可以作为指导结晶操作过程中的溶剂选择的依据。由表5可见，ADN在正丁醇和异丙醇中的固‐液界面张力γ值相差不多，说明ADN在所选两种溶剂中结晶成核过程难易程度相同。