《表3 样品的主要杂质元素及含量》

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《高纯碲化亚铜粉体的制备》

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/×10-6

采用重铬酸钾-硫酸亚铁铵容量法测定了Cu2Te粉体样品中的Te含量。对多批样品进行测定，Te含量的样本均值为50.02%，与纯物质Cu2Te所含的理论碲含量（50.10%）仅相差0.08%，说明该合成粉体的化学组成可认为是Cu2Te，与物相分析保持一致。采用ICP-2000发射光谱仪，对粉体的微量杂质进行分析，结果见表3。由表3可知，Cu2Te粉体的杂质含量较低，总杂质含量低于50×10-6，即纯度高达99.995%。该粉体的主要杂质元素为Si、Se和Pb，其中Si元素含量高达4×10-6，考虑为石英管反应容器所含Si元素的引入。本试验合成的Cu2Te粉体纯度较高，完全达到或超过了高纯Cu2Te粉体的指标要求。