《表1 测试点温升记录：基于6Sigma的电子设备内部电池寿命优化分析》

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《基于6Sigma的电子设备内部电池寿命优化分析》

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为了进一步验证仿真结果，我们利用多通道温度测试仪对设备进行多点温度测试，选择典型测试点:通道一测试点位于主板最热芯片位置；通道二测试点位于主板最低温升位置，通道三测试点位于主板高低温中间位置，通道四位于机壳电源模块安装温位置，通道五位于机壳主板模块按照位置，通道六位于靠近主板模块机壳空置位置[9-11]。环境温度为20℃，待设备达到热平衡后对各测试点温度进行记录，如表1所示。