《表2 激光测距仪电路故障建模和识别时间 (s)》
BP神经网络、聚类分析算法和本文方法的激光测距仪电路故障建模时间和识别时间,结果如表2所示。从表2可以发现,聚类分析算法的激光测距仪电路故障建模时间和识别时间均最长,其次为BP神经网络,本文方法的激光测距仪电路故障建模时间和识别时间最短,这表明本文激光测距仪电路故障识别过程更加简单,获得高效率的激光测距仪电路故障识别模型。
图表编号 | XD0052916000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.05.25 |
作者 | 高琴、高强 |
绘制单位 | 防灾科技学院、防灾科技学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |