《表6 采样位置与代号关系表》

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《带分接的可控电抗器结构优化设计研究》

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在4个分接下的电抗高度方向依次沿内绕组与外绕组的内径、中径、外径共6条轨迹，分别在窗内和窗外对漏磁密的轴向分量与辐向分量进行采样。采样位置与代号关系如表6所示，采样结果如图9～图16所示。数据统计分析图9～图16，得出4个分接下的最大漏磁密如表7所示。