《表2 CY7C199相对图3的写入读出“0”状态功能表》
注:WE-与OE-方波信号同步反相。
SRAM在试验前后都要进行静态测试[8]和动态测试,在ELEA(IC高温动态老化系统)程序中,其对DUE测试向量包含了[信号激励(X)、预期存储响应[4]或工作响应],并按试验要求,加上输出负载(输出电流有+、-向),通过与图2、图3的双向动态老化板线路结合,形成了ELEA的试验图形。这些图形在ELEA中通过设置系统时钟上升和下降沿、激励到DUE引脚(设置、输入、输出引脚)的方波频率或脉宽以及同相或反相同步等时序。CY7C199老炼试验时的状态功能表见表1和表2。
图表编号 | XD0050677600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.02.20 |
作者 | 王云 |
绘制单位 | 长沙韶光半导体有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |