《表3 四向旋转阵列所得异常值数目和占总条数的比例》

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《一种低成本高效率的PET闪烁晶体阵列时间性能检测方法与装置》

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用4个晶体阵列，将每个晶体阵列顺时针旋转90°用本系统进行测试，即把每个晶体阵列测量4次。将对应的每个晶体条4次实验的衰减时间常数结果对比，统计异常的结果见表3。可以发现，四向旋转后，仅有1～4个位于四角的或四边的晶体条4次测量值差异出现>0.5 ns的情况，进一步证明了本系统对于晶体的衰减时间测量值的有效性和位置一致性。