《表1 Tisch安德森8级气溶胶采样器与美国PIXE公司的分级式撞击采样仪相关参数》
本文对束流均匀性改善,主要针对8级分粒径大气颗粒物样品,目前国内使用较多的Tisch安德森8级气溶胶采样器与我们实验室使用的美国PIXE公司的分级式撞击采样仪参数见表1.安德森8级气溶胶采样器的喷孔孔径最大为2.55 mm,PIXE公司分级式撞击采样器最大喷孔孔径为5.0 mm.束流仅通过碳光栏准直时,束流中心孔径直径3.6mm内质子束的离散程度为-65%~50%,通过增加散焦膜和改用铝光栏后,束流中心孔径直径3.6mm内质子束的离散程度小于5%,可以直接用于安德森8级气溶胶采样器样品的定量分析,对于本实验室的美国PIXE公司的分级式撞击采样仪样品,从第1~7级分粒径样品可直接进行定量分析,而对第0级样品的定量分析还需对束流均匀性进一步改善.
图表编号 | XD004555300 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.08.01 |
作者 | 胥密、党永乐、王广甫、褚莹洁、仇猛淋、郑力、殷鹏 |
绘制单位 | 北京师范大学核科学与技术学院、中国核电工程有限公司、北京师范大学核科学与技术学院、北京师范大学核科学与技术学院、北京市辐射中心、北京师范大学核科学与技术学院、北京师范大学核科学与技术学院、北京师范大学核科学与技术学院、北京师范大学核科学与技术学院 |
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