《表1 实验具体条件：基于工程造价的材料分析》

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《基于工程造价的材料分析》

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本实验采用的主要测试方法是SEM、XRD和VSM。材料的性质是均匀的和良好的，这将在很大程度上反映在微观显示方面。扫描电镜是较好的形态分析图的理想选择。扫描电子显微镜，主要依赖于发射的二次电子捕获样本分析，将材料的表面微观结构以成像形式表示，实际使用过程中，首先，显微镜下有一个非常狭窄的光束，扫描样品，并通过其与材料表面相互作用，捕捉反馈信号，捕获信号的数理统计和分析，然后是图像输出形式的数据。所以，扫描电子显微镜的放大倍数，比普通光学显微镜要多上百倍，而且大大增加了材料研究的范围。XRD研究对象主要是结晶物质，大部分固体材料是微晶，非晶或结晶状态，可在X射线衍射的照射下，通过这种性质，对材料进行XRD定性分析，是目前研究晶体结构的最有力手段。微观层面，显示规则排列的原子，且原子间距和X射线波长在同一数量级，所以这些原子散射X射线可以相互干扰，在某些特定的方向能产生强烈的衍射峰，和衍射峰的分布空间方位和强度，并与晶体的结构密切相关。本次的实验具体条件见表1所示。