《表2 230℃下元器件拆解实验数据》
对主板元器件进行拆解实验,在视觉传感器匹配好待取元器件信息后,传动机构将加热机构和夹取机构运送至既定位置,进行预热和加热,元器件引脚上的焊锡充分熔化,此时夹持机构对待取芯片进行夹取。在同一型号和同一实验环境下多次实验取平均值,以及在不同加热温度条件下多次实验取平均值,得到如表2、表3所示实验数据。
图表编号 | XD0036702500 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.02.05 |
作者 | 何俊、陈咏琦、何家裕 |
绘制单位 | 武汉理工大学信息工程学院、武汉理工大学信息工程学院、武汉理工大学信息工程学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |