《表1 样品的拉曼光谱数据》

  提示：宽带有限、当前游客访问压缩模式

本系列图表出处文件名：随高清版一同展现

《低温等离子体改性碳纳米管及其对U(Ⅵ)的吸附性能研究》

1. 获取 高清版本忘记账户？点击这里登录

1. 下载图表忘记账户？点击这里登录

图2（a）是MWCNTs和PTWMCNTs样品的XRD图谱，从图中可以得出，MWCNTs结构相对应的两个特征衍射峰也存在于PTMWCNTs的XRD图谱中，表明等离子体改性只在MWCNTs表面进行，没有破坏MWCNTs的结构.图2（b）是拉曼光谱图，样品在图谱中都显示两个不同的峰值，并且没有观察到明显的位置偏移，进一步表明低温等离子体改性过程没有改变MWCNTs的结构.这与XRD结果一致.此外，在1355 cm-1处的峰是由于无定形碳或者管壁有缺陷结构的D模式[31].在1589 cm-1处的峰是由于碳有序结构的G模式[32，33].此外，对应于无序碳结构和石墨碳结构的峰强度比值ID/IG可用来评估样品表面结构的相对缺陷度（无序化程度）[33].如表1所示，PTMWCNTs-1的ID/IG值大于MWCNTs，而且O-PEA的接枝进一步提高了ID/IG的值，峰强度的比值表明PTMWCNTs的无序度增加了.