《表1 FBOC和BPSK的码相位测量不确定度的比较结果》
其中,Tc为伪码的码片宽度;F1为伪码跟踪环鉴相器相关因子;d为前后相关器间距;Bn为码环路的噪声带宽;C/ N0为接收信号与噪声功率比,单位为d B·Hz;F2为码跟踪环鉴别器类型因子;T为相干积分时间。由式(13)可知,伪码码片宽度Tc越小,相关器间距d越窄,则误差均方差σtDLL越小,意味着其引入的测量不确定度越小。本文根据式(13)仿真了FBOC调制方式和BPSK调制方式的码相位测量不确定度,两者的比较结果如表1所示。BPSK调制方式的伪码速率越高,码相位测量不确定度越小。当伪码速率为5MChip/s时,码相位测量不确定度约为100ps;当伪码速率提高为20MChip/s时,码相位测量不确定度低至25ps。而理论上,FBOC调制信号的自相关主峰远窄于BPSK调制信号的自相关峰,码相位测量精度则更高。仿真结果符合理论预期,对于伪码速率为125kChip/s、子载波频率为10MHz的FBOC调制信号而言,码相位测量不确定度仅为3.5ps,远小于BPSK调制信号的码相位测量不确定度。因此,基于FBOC调制的光纤双向时频比对系统中,系统合成标准不确定度将低于基于BPSK调制的系统,其锁相环路的测量不确定度不再是系统合成标准不确定度的主要成分。
图表编号 | XD0032159400 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.05.15 |
作者 | 杨文哲、王海峰、王学运、张升康、冯克明 |
绘制单位 | 北京无线电计量测试研究所、计量与校准技术国家重点实验室、中国航天科工集团第二研究院、北京无线电计量测试研究所、计量与校准技术国家重点实验室、中国航天科工集团第二研究院、北京无线电计量测试研究所、计量与校准技术国家重点实验室、中国航天科工集团第二研究院、北京无线电计量测试研究所、计量与校准技术国家重点实验室、中国航天科工集团第二研究院、计量与校准技术国家重点实验室、中国航天科工集团第二研究院 |
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