《Tab.2 Crystal behavior for different samples》
低缠结粉料、压延膜及取向膜的热分析结果如Fig.3及Tab.2所示。由Tab.2可知,对于低缠结粉料压制成薄膜的过程而言,其熔点略有上升,这可能是由于晶片厚度增加所致;其总结晶度的降低,但其晶粒尺寸却呈增大趋势,由此可见,压延成膜过程对结晶度和晶粒尺寸的影响属于不同的作用机理。从结晶的分子链模型分析,粉料在压制成膜的过程中,压力增大,熔体中的自由体积减小,分子长链重新构象形成折叠的结晶形态变得困难,因此,造成总结晶度减小;另一方面,在压力诱导下,分子链局部链段能够更快地通过小量旋转或位移重构进入晶格位置,可能会使其平均晶粒尺寸增加。
图表编号 | XD0031492200 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.01.01 |
作者 | 王吉辉、郑威、郭雁、汪得功、辛培训、黄玉松、王玲、李宁 |
绘制单位 | 山东非金属材料研究所、山东非金属材料研究所、山东非金属材料研究所、山东非金属材料研究所、山东非金属材料研究所、山东非金属材料研究所、山东非金属材料研究所、山东非金属材料研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
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