《表2 开盖-再封盖试验结果》
根据GJB 2438A-2002《混合集成电路通用规范》:1) 对于N次开盖-再封盖返工鉴定,需将样品开盖-再封盖N+1次,以实现鉴定N次的目的(C.6.3.2条);2) K级电路N≤2(D.2.2.7条)。本文针对某T/R组件设计3轮开盖-再封盖试验进行工艺鉴定;取6只T/R空壳体进行3轮开盖-再封盖工艺试验,从第2轮开盖-再封盖起,每次开盖和焊接以2只为一组,待间隙、气密等合格后再进行工艺固化验证,若间隙、检漏不合格则调整工艺,从剩余组件中选取2只继续试验,直到间隙、气密等符合要求。具体流程如图4,其中环境试验按照表1要求进行,所得结果列于表2。通过对机加后配合间隙、激光参数和散热工装的优化,组件开盖后配合间隙、焊缝质量和表面光洁度等能够达到首次封焊水平,如图5所示,符合工艺要求。
图表编号 | XD0030623500 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.01.18 |
作者 | 桂中祥、王传伟 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第38研究所、中国电子科技集团公司第38研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |