《表3 相噪测试数据：XC6SLX9的全数字锁相环片上系统设计》

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《XC6SLX9的全数字锁相环片上系统设计》

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相噪测试曲线如图8所示，测试数据见表3。对10M、锁相前后100M信号的相噪进行测试，通过数据分析得出，在100~10k范围内，100M信号锁相后较锁相前相噪有所恶化，但是仍然明显好于10M信号。