《表2 具体缺陷模式的检测结果》
第二个实验的结果如表2所示,实验验证了提出方法判断缺陷的具体模式的准确性。实验结果显示,提出方法的平均准确率为88.41%,分别高于文献[1]和文献[2]的平均准确率86.49%、88.31%。详细分析被提出方法错误识别为包含缺陷的25个正常芯片结果,其中10个样本被识别为Donut模式,15个样本被识别为Edge-ring模式。
图表编号 | XD0029968600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.02.20 |
作者 | 付纯鹤、高荣荣、王军帅、于晓华 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第四十五研究所、中国电子科技集团公司第四十五研究所、中国电子科技集团公司第四十五研究所、中国电子科技集团公司第四十五研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |