《表7 双因素无重复方差分析结果》

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《熔融沉积成形制件表面粗糙度预测模型》

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表6所示为不同层厚和挤出宽对应的表面粗糙度测量结果。对表6中的测量结果进行双因素无重复方差分析[16]，结果如表7所示。层厚（t）对应的检验水平P为0.032，小于显著性水平0.05，表明统计学上层厚和表面粗糙度的相关性较为显著；而挤出宽（w）对应的P为0.067，大于0.05，表明统计学上挤出宽和侧表面粗糙度相关性较小。