《表4 超低频介损检测判据的定义》

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《基于超低频介损的XLPE电缆绝缘受潮检测判据研究》

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目前IEEE超低频介损的状态表征有3个判据，分别是代表介损平均状态的TD、代表介损随电压稳定性的DTD和代表介损随时间稳定性的STD，综合RDTD和ETD这2个新的检测判据，吸纳韩国Skirt判据，得到更完善的超低频介损检测判据体系，其定义与相关表征如表4所示。