《表5 LTDR前后关键静态参数变化》

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《基于阿伦尼斯模型的Flash存储器数据保持能力研究》

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随机抽取22只Flash1，进行电性能测试后，按照表2中规定的扇区数量及擦写次数进行擦写耐久性试验，试验过程未出现异常；对完成耐久性试验的器件进行数据写入（全“0”写入）并分组，每组11只，按照图1要求，进行LTDR及HTDR试验，试验均未出现异常；试验后，对各器件进行数据读出验证（读“0”验证）及电测试，结果显示，各器件均未出现数据保持异常，电测试合格。表4、表5给出了3只器件在HTDR、LTDR试验前后关键静态参数变化情况。