《表1 超导材料流损耗测试方法对比》
其中电测法具有测量快速,精度较高的优点但易受外界电磁干扰。热测法可避免外界电磁干扰,但对带材样品的测量时间较长,且对测量装置的绝热性能有很高的要求。磁测法仅能测试超导带材短样的外场损耗。其中各测量方法的优缺点和适用范围如表1所示。
图表编号 | XD00213201200 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2020.12.01 |
作者 | 陈伟、黑颖顿 |
绘制单位 | 云南电网有限责任公司电力科学研究院、云南电网有限责任公司电力科学研究院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
其中电测法具有测量快速,精度较高的优点但易受外界电磁干扰。热测法可避免外界电磁干扰,但对带材样品的测量时间较长,且对测量装置的绝热性能有很高的要求。磁测法仅能测试超导带材短样的外场损耗。其中各测量方法的优缺点和适用范围如表1所示。
图表编号 | XD00213201200 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.12.01 |
作者 | 陈伟、黑颖顿 |
绘制单位 | 云南电网有限责任公司电力科学研究院、云南电网有限责任公司电力科学研究院 |
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