《表1 器件损耗实验结果：基于功率器件壳温估计的逆变电路动态限流方法》

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《基于功率器件壳温估计的逆变电路动态限流方法》

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为验证所提非线性热路模型和参数辨识的有效性，利用实验平台，在不同负载电流和器件壳温条件下对器件损耗进行测量，所得结果如表1所示。由表可见，在相同的壳温下，器件损耗随着电流的提高而增大。而在相同电流条件下，器件损耗随着器件壳温的上升而提高，这是由于功率MOSFET内阻具有正温度特性。