《表1 Q235钢棒材经不同预电化学腐蚀时间后的正电子寿命谱参数》

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《预电化学腐蚀时间对Q235钢棒材电化学冷拉拔的影响》

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众所周知，正电子湮没寿命谱（PALS）是检测纳米级缺陷，特别是空位等缺陷最有用的方法[12]。因此，对不同电化学腐蚀时间的原始棒材样品进行PALS分析，之后对测试完的数据进行三寿命解谱，得出如表1所示的寿命参数。其中第一个寿命τ1是最短的，主要反映的是正电子在被测材料中单空位和双空位中的湮灭。而第二个寿命τ2则稍长，其主要反映的是正电子在被测材料空位簇中的湮灭。而相应的两个强度（I1，I2）分别指这两种不同缺陷的多少[13]。为了更直观地说明棒材表面不同种类空位缺陷的变化，将表1中寿命参数绘成图6所示的柱状图。