《表1 3～100Hz较低频率下的正弦扫描试验条件》

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《箭载电子产品减振器结构失效机理及可靠性分析》

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对具有减振器结构的箭载电子产品进行箭载环境下的模拟力学振动试验，振动条件分别简化为3～100Hz较低频率下的正弦扫频试验，和10～2000Hz较高频率下的随机振动试验。振动试验的3个垂直方向（x、y、z）如图1所示，具体试验条件见表1、表2。