《表2 比对样品含量XRF分析结果》
(%)
使用荷兰帕纳科公司PW4400型X-射线荧光光谱仪(4.0 k W,端窗铑靶),对样品进行全成分含量分析[7],结果如表2所示。其它的一些配置如下:Super Q软件系统,Windows8操作系统,加拿大CLAISSE熔样机,铂金坩埚,Sartorius Group BSA224S I级电子天平,DHG-9075A型干燥箱(上海一恒科学仪器有限公司),SX-G05132型马弗炉(天津市中环实验电炉有限公司)。
图表编号 | XD00197162300 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.12.28 |
作者 | 李多宏、王铁健、潘玉婷、郭冬发、黄秋红、杨丽芳、武朝辉 |
绘制单位 | 国家核安保技术中心、核工业北京地质研究院、生态环境部核与辐射安全中心、核工业北京地质研究院、核工业北京地质研究院、国家核安保技术中心、国家核安保技术中心 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |