《表2 仪器工作条件：X射线荧光光谱法测定浮法硼硅酸盐玻璃的成分》

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《X射线荧光光谱法测定浮法硼硅酸盐玻璃的成分》

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窗口膜的厚度为0.6μm；在测定硅时选择了铍滤光片，厚度为150μm，其他元素不用；硼为固定通道，测试角度固定，不能进行背景扣除；硅、铝、钠、钾共用一组流气正比计数器（Flow），针对硼单独配置了一组流气正比计数器（Scint）。