《表3 校准参数:X射线荧光光谱法测定浮法硼硅酸盐玻璃的成分》
按照试验方法采用Super Q分析软件对表1中的物质进行测定,求出SiO2、Al2O3、K2O、Na2O、B2O3校准曲线的截距(Di)、斜率(ki)和相关系数,结果见表3。
图表编号 | XD00190891800 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2020.11.18 |
作者 | 徐峥、李志进 |
绘制单位 | 江苏华东耀皮玻璃有限公司、上海耀皮玻璃集团股份有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
按照试验方法采用Super Q分析软件对表1中的物质进行测定,求出SiO2、Al2O3、K2O、Na2O、B2O3校准曲线的截距(Di)、斜率(ki)和相关系数,结果见表3。
图表编号 | XD00190891800 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.11.18 |
作者 | 徐峥、李志进 |
绘制单位 | 江苏华东耀皮玻璃有限公司、上海耀皮玻璃集团股份有限公司 |
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