《表1 仪器工作条件：X射线荧光光谱在硅酸盐全分析中的应用》
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（1） X-射线荧光光谱仪（AdvantXP），美国热电公司，测定二氧化硅的仪器工作条件见表1。
| 图表编号 | XD0060782000 严禁用于非法目的 |
|---|---|
| 绘制时间 | 2019.04.16 |
| 作者 | 李永玲、索也兵、刘伟、赵旭东 |
| 绘制单位 | 中国建筑材料工业规划研究院、中国建筑材料工业规划研究院、中国建筑材料工业规划研究院、中国建筑材料工业规划研究院 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
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