《表2 真空热处理后临界电流测试结果》

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《CSMC热处理监控系统的设计与运行》

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在热处理调试过程中，为模拟Nb3Sn磁体在热处理之后的性能，在磁体周围放置了17个Nb3Sn短样，热处理结束后，对这些试样进行了临界电流测试，测试条件为12T 4.2K，测试结果见表1。对同一批试样，在小型真空热处理炉中进行了热处理试验，试验结果如表2所示。比对发现本热处理试样与真空热处理试样临界电流差别不大，均在合理范围值以内，说明本系统有效可靠，可以作为CSMC热处理监控系统。