《表4 不同MAO电压下试样慢应变速率拉伸后的氢含量》

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《电压对微弧氧化膜抑制7050铝合金氢脆敏感性的影响》

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表4反映了以慢应变率拉伸断裂后不同MAO电压下试样标距段的氢含量。无MAO膜层试样经拉伸断裂后氢含量为2.6×10-7，不同MAO电压下试样的氢含量有所降低。这表明MAO膜层可以防止氢气从湿空气中进入试样进而导致氢脆。由于电压过高和过低对应的试样膜层致密性有所下降，氢抑制效果差，所以550 VMAO试样具有最低的氢含量1.7×10-7。