《表2 60Hz下各样品的N,Vi max和Vi max/m》
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《空封光电耦合器内部多余物颗粒PIND检出概率研究》
为分析上述Pd分布,表2中给出了各样品采样数据的N,Vi max和Vi max/m,此处N为各组数据的有效数据点数的平均值,而Vi max为所有组数据中的峰值,将其除以m以等效为颗粒质量相同的情况。另外,表2中还给出了区域Ⅰ和区域Ⅱ中对应N和Vi max/m的比值。
图表编号 | XD00188412600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2021.02.01 |
作者 | 李冰、丁鹏、金晖、陈春霞、鲍江、石云莲 |
绘制单位 | 重庆光电技术研究所、重庆光电技术研究所、重庆光电技术研究所、重庆光电技术研究所、重庆光电技术研究所、重庆光电技术研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |