《表3 130Hz下各样品的N,Vi max和Vi max/m》
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《空封光电耦合器内部多余物颗粒PIND检出概率研究》
为分析上述Pd分布，按照表2格式给出了各样品采样数据的N，Vi max和Vi max/m，如表3所示。
| 图表编号 | XD00188413000 严禁用于非法目的 |
|---|---|
| 绘制时间 | 2021.02.01 |
| 作者 | 李冰、丁鹏、金晖、陈春霞、鲍江、石云莲 |
| 绘制单位 | 重庆光电技术研究所、重庆光电技术研究所、重庆光电技术研究所、重庆光电技术研究所、重庆光电技术研究所、重庆光电技术研究所 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
